Диагностика и анализ причин отказа силовых полупроводниковых приборов
Предзаказ

Диагностика и анализ причин отказа силовых полупроводниковых приборов

Нет в наличии
Описание
Описание

Проводим технический анализ причин выхода из строя силовых полупроводниковых приборов и силовых узлов с целью определения характера повреждения, вероятной первопричины отказа и разработки рекомендаций по предотвращению повторных неисправностей.

Исследование может выполняться для:

  • силовых диодов;
  • тиристоров;
  • быстродействующих и импульсных приборов;
  • силовых модулей;
  • диодно-тиристорных сборок;
  • однофазных и трехфазных силовых мостов;
  • выпрямительных узлов;
  • силовых полупроводниковых сборок;
  • полупроводниковых приборов, работающих в составе преобразовательного оборудования.

Какие причины отказа мы анализируем

Повреждение силового полупроводникового прибора не всегда связано с дефектом самого компонента. Причиной отказа могут быть электрические перегрузки, нарушение теплового режима, неправильный монтаж, недостаточное охлаждение или особенности работы силовой схемы.

В процессе анализа рассматриваются возможные причины отказа, включая:

  • превышение допустимого рабочего или импульсного тока;
  • перенапряжения и коммутационные выбросы;
  • превышение допустимой скорости нарастания тока di/dt;
  • превышение допустимой скорости нарастания напряжения dv/dt;
  • недостаточное время восстановления прибора;
  • нарушение процессов коммутации;
  • аварийные режимы и короткие замыкания;
  • перегрев полупроводниковой структуры;
  • недостаточную эффективность системы охлаждения;
  • ухудшение теплового контакта между прибором и охладителем;
  • неправильное усилие прижима таблеточного прибора;
  • перекос или неравномерность прижима;
  • неправильный монтаж силового модуля;
  • нарушения в цепях управления тиристорами или IGBT;
  • несогласованность параметров параллельно или последовательно соединенных приборов;
  • циклические термомеханические нагрузки;
  • несоответствие применяемого прибора фактическому режиму работы оборудования.

Что включает анализ

В зависимости от характера неисправности и имеющейся технической информации наши специалисты выполняют:

  • внешний осмотр поврежденного прибора;
  • анализ характера и локализации повреждений;
  • проверку основных электрических параметров;
  • анализ схемы включения прибора;
  • изучение режима работы оборудования;
  • анализ нагрузок тока и напряжения;
  • оценку аварийных и переходных процессов;
  • проверку правильности выбора прибора по току и напряжению;
  • анализ динамических параметров;
  • оценку условий охлаждения;
  • тепловой расчет силового узла;
  • анализ конструкции и способа монтажа;
  • проверку соответствия фактических условий эксплуатации требованиям технической документации.

При наличии осциллограмм, схем, журналов аварий, параметров нагрузки и другой эксплуатационной информации проводится дополнительный анализ процессов, предшествовавших отказу.

Определение первопричины неисправности

Одна из основных задач исследования — определить не только каким образом был поврежден прибор, но и почему возник соответствующий аварийный режим.

Например, пробой тиристора или диода может быть следствием перенапряжения, но причиной самого перенапряжения могут являться недостаточная эффективность RC-цепей, неправильная коммутация, повышенная индуктивность силовой цепи или нарушение работы соседнего элемента.

Поэтому при необходимости анализируется не только поврежденный прибор, но и весь силовой узел, в котором он эксплуатировался.

Результат работы

По результатам проведенного анализа заказчик получает техническое заключение о наиболее вероятных причинах отказа силового полупроводникового прибора и рекомендации по устранению выявленных проблем.

Обратный звонок
Запрос успешно отправлен!
Имя *
Телефон *
Отправить заявку на Диагностика и анализ причин отказа силовых полупроводниковых приборов
Заявка успешно отправлена
Название компании *
Телефон *
Email *
Комментарий
Добавить в корзину
Название товара
100 ₽
1 шт.
Перейти в корзину